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Rietveld 分析
  在1969年H.M.Rietveld提出的全譜擬合結(jié)構(gòu)精修是晶體材料結(jié)構(gòu)分析極具價(jià)值的方法。可獲得樣品各種結(jié)構(gòu)信息包括:物相含量,物相結(jié)構(gòu)、晶胞參數(shù)、晶體尺寸等。與傳統(tǒng)定量方法相比,Rietveld分析是最先進(jìn)的,并且無需標(biāo)準(zhǔn)樣品即可得到含量在1%以內(nèi)物相的精確結(jié)果。在此之前,使用粉末衍射進(jìn)行混合樣品無標(biāo)精確定量分析是不可能的。


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