織構(gòu)測(cè)量
材料晶體的晶粒在不同程度上圍繞某些特殊的取向排列，就稱為擇優(yōu)取向或簡(jiǎn)稱織構(gòu)。在x射線衍射測(cè)量中，為了表示晶粒的取向分布統(tǒng)計(jì)信息，人們采用極圖來(lái)直觀表示。極圖就是將晶粒某一晶面{H,K,L}的法線在宏觀坐標(biāo)系中的空間取向進(jìn)行極射赤道平面投影所得到的圖，極圖能反映材料的一部分取向信息。X射線衍射儀和5維轉(zhuǎn)臺(tái)組合，為材料及材料制品的織構(gòu)測(cè)量提供可靠的檢測(cè)方法。
推薦：
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